日置HIOKI 3506-10 C测试仪
日置HIOKI 3506-10 C测试仪
日置HIOKI 3506-10 C测试仪可测量的参数有C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ)，日置HIOKI 3506-10 C测试仪参数频率可设置为 1kHz, 1MHz，日置HIOKI 3506-10 C测试仪仪器有功能BIN分类测量, 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 电流检测监视功能, 输出电压值监视功能, 控制用输入输出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口。
服务热线：400 892 1718
产品简介
对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
C、(tan δ), Q测试，低电阻测量 测试源频率：1kHz，1MHz 测量时间：1.5ms(1MHz) RS-232C，GP-IB
● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
● 提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度
● 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量
● 根据BIN的测定区分容量
输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件。 ※RS-232C用连接线可以使用支持网络连接的市面上销售的交叉线。RS-232C连接线9637除硬件流控制之外的情况下可以使用。
