日置HIOKI IM3570阻抗分析仪测量频率4Hz~5MHz
日置HIOKI IM3570阻抗分析仪测量频率4Hz~5MHz
日置HIOKI IM3570阻抗分析仪可测量|Z|、L、C、R，日置 IM3570阻抗分析仪测量频率4Hz~5MHz，日本 IM3570阻抗分析仪测试电平5mV~5V。
服务热线：400 892 1718
产品简介
● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
● 基本精度±0.08%的高精度测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
● 可以用于无线充电评价系统TS2400
● 搭配4ch扫描模块机架，更能实现2MHz阻抗的4ch测量
主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。
● LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
● 基本精度±0.08%的高精度测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
● 可以用于无线充电评价系统TS2400
● 搭配4ch扫描模块机架，更能实现2MHz阻抗的4ch测量
主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。
