日置HIOKI IM3523 LCR测试仪频率40Hz - 200kHz
日置HIOKI IM3523 LCR测试仪频率40Hz - 200kHz
日置HIOKI IM3523 LCR测试仪频率40Hz - 200kHz，日置 IM3523 LCR测试仪2ms的快速测试时间，日本 IM3523 LCR测试仪测试量程100mΩ～100MΩ,10个量程。
服务热线：400 892 1718
产品简介
● 基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
● 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。
● 内置比较器和BIN功能
● 2ms的快速测试时间
● 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。
● 内置比较器和BIN功能
● 2ms的快速测试时间
本产品不标配测量探头和测试夹具。请结合应用单独选择和购买合适的测量探头和测试夹具。所有探头均带有一个1.5D-2V的同轴电缆。RS-232C接口连接：交互连接可使用交叉电缆。您可使用RS-232C电缆9637，不需要硬件控制器。
