日置HIOKI IM7583阻抗分析仪测量频率1MHz~600MHz
日置HIOKI IM7583阻抗分析仪测量频率1MHz~600MHz
日置HIOKI IM7583阻抗分析仪测量频率1MHz~600MHz ，日置 IM7583阻抗分析仪 测量方式：RF I-V法，日本 IM7583阻抗分析仪测量模式LCR（LCR测量），分析（扫频测量），连续测量。
服务热线：400 892 1718
产品简介
● 测量频率：1MHz~600MHz
● 测量时间：最快0.5ms（模拟测量时间）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 测量方式：RF I-V法
● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪IM7580A专用的测试治具。
● 测量时间：最快0.5ms（模拟测量时间）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 测量方式：RF I-V法
● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪IM7580A专用的测试治具。
